Nos techniques d’analyses de surface

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MEB FEG EDX

Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)
Mode Haut-vide ou vide partiel pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore)

 

TOF SIMS

La spectrométrie de masse à ionisation secondaire (SIMS en anglais pour Secondary Ion Mass Spectrometry) est une technique d’analyse de surface dont le principe est de bombarder la surface d’un échantillon (un matériau) à analyser avec des ions.

 

XPS

La technique XPS est une technique analytique par spectrométrie de photoélectrons X (ou ESCA, Electron Spectroscopy for Chemical Analysis).

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