Nos techniques d’analyses métallurgiques

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ICP MS

Spectromètre ICP MS équipé d’une DRC (Dynamic Reaction Cell).
Quadripôle, limite de détection jusqu'au ppt, système d'injection Teflon pour solution HF, rapport isotopique.

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ICP AES

Spectromètre d’émission atomique ICP AES Double Visée Axiale et Radiale.
Système simultané, système d'injection Teflon pour solution HF, système d'injection pour matrice fortement chargée, analyse de solution organique.

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MEB FEG EDX

Microscope Electronique à Balayage (MEB-FEG) couplée à une microsonde X dispersive en énergie (EDX)
Mode Haut-vide ou vide partiel pour échantillon conducteur et isolant - Détecteur d'électrons secondaires et rétrodiffusés (contraste topographique et chimique) - Analyse chimique semi-quantitative EDX (mode pointé, cartographie, détection à partir du Bore)

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Spectrométrie d’étincelage (SEO)

Spectromètre d'Emission Optique stationnaire (SEO) ou Spectromètre d'étincelage pour analyse des métaux.
Base Fer, base Aluminium, base cuivre. Analyse de massif : surface supérieure à 1 cm2 et épaisseur supérieure à 0,5 mm

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